與所有其他電子元件部件一樣，電容器在遇到非設(shè)計或制造電容器的環(huán)境或操作條件時可能會發(fā)生故障。設(shè)計人員必須清楚地了解單元中內(nèi)置的安全系數(shù)、他自己添加的安全系數(shù)以及電路和環(huán)境條件對參數(shù)的眾多影響。僅知道電容和額定電壓是不夠的。了解電容隨環(huán)境變化的程度很重要；電容的內(nèi)阻是多少隨溫度、電流、電壓或頻率而變化；所有這些因素對絕緣電阻、擊穿電壓和其他基本電容器特性的影響，這些對電路不是必不可少的，但總是伴隨著必要的電容。

　1.電流過載

　瞬態(tài)浪涌是由于開關(guān)操作、相關(guān)電路或組件在足夠長的持續(xù)時間和幅度下發(fā)生故障而產(chǎn)生的介電故障、電容的永久變化和密封失效。

　2.電壓過載

　由于預(yù)熱程序不充分、開關(guān)和負(fù)載突然丟失而導(dǎo)致的超過電容器額定值的電壓瞬變可能導(dǎo)致內(nèi)部電暈、電介質(zhì)擊穿以及由于電介質(zhì)內(nèi)的高電壓梯度而降低絕緣電阻。在需要最大可靠性的情況下，最高d-c電平加上要施加的峰值a-c幅度電壓之和不得超過電容器的工作電壓額定值。為安全起見，除電解電容器外，所有類型電容器的額定工作電壓應(yīng)至少比這些電壓的預(yù)期總和高20%。

　3.頻率效應(yīng)

　應(yīng)該知道頻率對電容器工作特性的影響，特別是最大額定電流與頻率之間的關(guān)系。以高于其設(shè)計頻率的頻率運行電容器將導(dǎo)致運行不良和過熱。當(dāng)施加這些頻率的脈沖時，未設(shè)計為在UHF下工作的電容器可能會擊穿。

　由于某些類型電容器的固有電感，如果要確保最大旁路效應(yīng)，最好將一個大電容器與一個小電容器分流，在環(huán)路或交叉配置中使用盡可能短的引線。

　4.高溫

　過熱是降低電容器可靠性的主要因素之一。無論是由于上述條件、高環(huán)境溫度還是高功率因素導(dǎo)致的，過高的工作溫度都會導(dǎo)致高故障率、加速電容漂移、降低介電強度、降低電暈水平、降低絕緣電阻和縮短壽命。表面溫度每升高10-C，降低一半）。極性型電容器通常具有高功率因數(shù)，因此會產(chǎn)生自生內(nèi)部熱量。高溫下絕緣電阻降低會導(dǎo)致更大的泄漏電流，溫度逐漸升高，絕緣電阻進(jìn)一步降低，最終導(dǎo)致電容器損壞。密封，特別是軟焊型，

　5.壓力

　由于電容與板之間的有效距離成反比，因此非剛性電容器容器上的任何明顯壓力變化都可能產(chǎn)生電容變化。壓力變化是由于卡箍緊固件不良、高度快速變化還是其他因素造成的，這無關(guān)緊要；最終結(jié)果是一樣的?？焖俚臍鈮鹤兓赡苁敲芊馐У脑?，從而導(dǎo)致電容器元件暴露在環(huán)境條件下。高夾緊壓力也可能導(dǎo)致外殼變形和最終的密封失效。

　6.濕度

　除了引起外部腐蝕和真菌生長外，水分還會降低介電強度和介電常數(shù)，降低絕緣電阻，并導(dǎo)致高于正常的漏電流；最終結(jié)果是降低了電壓擊穿和更高的內(nèi)部溫度。幾種常用的電容器材料（紙、蠟和其他浸漬劑）是真菌營養(yǎng)素。為了在潮濕條件下獲得最大可靠性，使用密封電容器絕對是有利的。

　7.危險事項

　高壓充電電容器的危害問題是一個嚴(yán)重的問題。在處理電容器之前或在對具有充電電容器的電路或設(shè)備進(jìn)行任何工作之前，電容器應(yīng)始終完全放電。用螺絲刀短接電容器的做法不僅從操作者的角度來看是危險的，而且由于高放電電流很可能會損壞電容器。此外，很可能發(fā)生介電擊穿。

　電容器充放電需要時間，為了安全起見，放電應(yīng)緩慢進(jìn)行。在電荷上抵抗極化的電介質(zhì)也在放電過程中抵抗去極化。單次使用螺絲刀或其他短路方式不足以完全釋放此類單元中存儲的能量。安全實踐表明使用高功率低電阻短路棒，應(yīng)多次使用，直到確定單元中沒有能量。